| 材料试验机 |
| JP62272828 1987-10-28 发明申请 |
| 1989-5-8 |
| 目的 : 以提高可操作性通过提供一种可更换的半导体存储器上的一外部测试条件表模块与相对于一微处理器具有一内部测试条件表，使得数据能够被加载和复制相互。结构 : 与相对于一微处理器(CPU)1，多个半导体存储器模块，其存储测试条件对应的各种一个外部测试条件表中的测试方法制备。还，所述CPU1提供与一个负载键8用于加载数据在所述的表该模块6，一RAM3中，和所述的保存键9用于复制该数据RAM3以一模块6。在这种状态，通过选择和连接所述模块6，所述测试条件被切换，和还，通过操作相互该密钥8和该密钥9，该数据在该表被传送。因此，所述的可操作性是令人满意的，并且还，可以执行高速访问，和高可靠性可以被获得的。 |
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