| 制备的操作件接触扫描坐标测量 |
| JP2014540326 2011-11-10 发明申请 |
| 2014-12-25 |
| 本发明涉及一种方法和用于制备相应的系统操作的触觉探测坐标测量机(1)，更特别的是用于制备校准坐标测量机(1)通过触觉探测校准的元件(2，4)通过一个探测装置(3，8)设置在坐标测量机(1)，所述方法包括以下步骤 : 测量探球的表面(3)偏离理想形状的球作为探测元件的坐标测量机(1)，或测量一种校准球体的表面(2，4)偏离理想形状的球作为标定正常，通过表面的测量装置(21)，和坐标确定多个真正的表面探查球或校准球体上的点(2，4)在探查球的坐标系统或校准球体(2，4)；放置的参考特征(14；15；16)探查球(3)或校准球体(2，4)相对于坐标系统的探查球(3)或校准球体(2，4)；安装探查球(3)上的触觉探测坐标测量机(1)，或者将校准球体(2，4)在测量范围内的触觉探测坐标测量机(1)；并将探查球的坐标系统(3)或校准球体(2，4)相对于坐标系统的坐标测量机(1)以这样的方式有关的信息，真正的表面上的点的位置探查球(3)或校准球体(2，4)中可用的或可确定的坐标系统的坐标测量机(1)。 |
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