| 一种颗粒粒度仪 |
| CN201410346734.5 2014-7-21 发明申请 |
| 2014-10-8 |
| 本发明公开了一种颗粒粒度仪，采用面阵图像传感器下置有显微物镜，显微物镜的焦面上置有样品池，样品池下置有两个光源，透射光源和散射光源；测量微米级颗粒时，透射光源发出照明光，照亮被测颗粒样品，颗粒图像被显微物镜放大成像在像平面上，图像被面阵图像传感器接收后获得的图像信号送到计算机处理，得到颗粒粒度分布；测量纳米颗粒时，关闭透射光源，打开散射光源，散射光源发出的激光照射到纳米颗粒样品，纳米颗粒因布朗运动产生的动态光散射信号通过显微物镜被面阵图像传感器接收，获得的信号送到计算机处理，得到颗粒粒度分布。本发明利用一个图像传感器可以测量粒度范围从纳米到数百微米的颗粒，满足宽范围颗粒测量的要求。 |
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