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用于线性测量干涉仪，包括用于发射相干光的光源，用于测量和检测器的光的强度，其中干涉仪驻波干涉仪

DE102007029822 2007-6-28 发明申请

2009-1-2

本发明涉及一种interferomter，以及由源用于发射相干光的光检测器，用于该测量光的强度，由此检测器是光电二极管从有机材料。尤其是，这证明为一种与所谓的“有利的驻波干涉仪”。