| 动态光散射型颗粒尺寸分析仪 |
| KR1020080025855 2008-3-20 发明申请 |
| 2009-9-24 |
| 目的 : 一种动态光散射型颗粒尺寸分析仪是提供给工作在高速和高的效率在以便测量所述纳米颗粒的尺寸分布，其移动，快速。结构 : 一种动态光散射型颗粒尺寸分析仪包括一个分束器，第一和第二的多像素检测器，第一和一个第二波的高度选择器，一个相关器，和一种粒度计算器。所述分束器(10)关断所述散射的光分支出当一扩散介质上聚焦一种激光包括测量颗粒为第一的光学信号和一个第二的光信号。第一多像素检测器(13a)将第一的光学信号，以电气信号。第一波的高度选择器(14a)接收所述的电气信号从第一多像素检测器，输出中去除所述恒定的数字信号，其中去除该噪声下面所述的特定波的高度，和所述消除了噪声的输出数字信号。第二的多像素检测器(13b)将所述第二光学信号，以电气信号。第二波的高度选择器(14b)接收所述的电气信号从第二多像素检测器，输出中去除所述恒定下面所述特定的数字信号，其中去除该噪声波的高度，并输出所述消除了噪声的数字信号。所述相关器(15)接收所述数字信号从第一和第二波的高度选择器通过各自的第一和第二信道，并产生一个互相关函数第一和第二之间的信道，所述粒度计算器计算该基于所述颗粒的大小由所述相关器获得的所述互相关函数。 |
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