用于自动聚焦显微镜系统的深度学习模型
 
WOUS21044988  2021-8-6  发明申请

2022-2-10
 
  计算系统从图像传感器接收位于显微镜系统的样品台上的样品的至少两个图像。 所述计算系统将所述至少两个图像提供给自动聚焦模型,用于检测到所述样品的焦平面的至少一个距离。 所述计算系统经由所述自动聚焦模型识别到所述样本的焦平面的所述至少一个距离。 基于所述识别,所述计算系统自动调整所述样品台相对于所述显微镜系统的物镜的位置。
 
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