| 工件的圆度测量程序使用可旋转的光学探头的光分离的光束，以提供测量和参考光束路径长度比较 |
| DE102006019623 2006-4-25 发明申请 |
| 2006-11-9 |
| 用于所述rundheitsmessung过程在一工件与一个rundheitsmessvorrichtung的一种坐标测量装置与一示踪剂与所述以下工艺步骤 : 在至少两个照明辐射中的至少一个照明墨hurry被划分，其中第一lightingradiate-hurry朝向所述工件和反射从所述工件作为messstrahl，其中第二lightingradiate-hurry朝向一循环训练的参考主体和从所述参考反射体作为参考墨，其中所述循环训练的参考体被固定地设置相对向该工件，并由此所述的对称轴线的参考体被训练为一个具有一个轴所述示踪剂在至少约塌陷的旋转对称轴线，和一个所述的光学距离的改变所述参考喷射和所述messtrahles被占用。超过本发明涉及一种坐标测量装置，用于所执行的一个rundheitsmessung在一工件。 |
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