| 基于激光衍射法的粒度分析仪 |
| US09912480 2001-7-26 发明申请 |
| 2002-3-28 |
| 将平行激光束照射到待测颗粒上得到的散射光在0°至40°以上的广角区域被聚光透镜会聚， 并且通过位于聚光透镜焦点处的光学传感器在空间上连续测量光的强度分布。 在根据所测量的光强度分布计算粒度分布之前，通过与预先通过射线跟踪获得的数据相比较来校正由聚光透镜的像差和光路上的衰减引起的散射光强度分布的测量误差。 因此，在空间上连续测量较宽角度区域中的散射光，从而获得亚微米区域中具有高分辨率的光强度分布。 |
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