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产业专利数据

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自适应扫描确定单个荧光染料分子位置的方法及荧光显微镜

DE102020127320 2020-10-16 发明授权

2022-1-27

本发明是一种用于通过用具有局部最小值的扫描光的强度分布进行扫描来在空间上高度精确地确定荧光染料的单个染料分子的位置的方法。本发明的特征在于以下事实：扫描不是对所有染料分子均一地进行，而是单独地适应于待扫描的染料分子，并且如果需要的话，适应于其在样品中的环境，以便以尽可能少的荧光光子数实现尽可能精确的位置确定。