| 材料试验机 |
| JP01200037 1989-7-31 发明申请 |
| 1991-3-19 |
| 目的 : 以提高精度的校正通过在预先存储一个负载-一承载框架的偏转特性在当两个方向摆动被加载的所述时间和所述负载-偏转特性的测量样品的用于测试通过所述存储负载-deflecton。结构 : 所述负载-所述承载框架LF的偏转特性具有一在该时间滞后所述负载时用于两个方向摆动被施加，被存储在存储装置22。所述负载和一位移被检测，同时施加压缩负载和拉伸负载交替地以所述样品SP用于测试。由于该承载框架LF的负载-deflectin特性存储在所述存储装置22具有磁滞，两个不同偏转量是对应于所述相同的负载，然后该样品被校正的所述的负载-位移特性通过取所述偏转量根据与所述中任一个作为校正数据的增加\/减少所述负载的条件，以被施加。因此，所述校正数据在所述的传送时间压缩→张力，张力→压缩具有连续性，并且该结果准确，其中所述偏转部中的负载可以获得帧被排除在所述的测试两个方向摆动。 |
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