| 材料试验机 |
| JP01200038 1989-7-31 发明申请 |
| 1991-3-19 |
| 目的 : 以降低一种通过正确地校正成本和提高所述校正精度重写在预先负载-偏转特性用于向多个负载中的帧近似曲线的功能和校正样品的负载-位移特性，以被测与所使用的这些近似的函数。结构 : 形成所述负载和偏转数据在所述时间测量当所述承载框架LF被加载，而不该待测样品，所述的多个近似功能划分在根据与所述负载-偏转特性曲线的形状分别由算术装置34获得的。这些计算近似的函数被存储在存储装置35。然后，这些近似的函数存储在所述存储装置35根据与被选择的一个检测的负载位移，和所述负载-位移特性的该待测样品SP是根据这些选择中的近似校正功能。用于该对象所述负载-位移特性，其中所述承载框架LF的偏转部分中被排除，可以被准确地测得因此。与这种布置，所述校正适应于所述用于每个测试条件的负载-位移特性可以精确地制成在一个低的成本。 |
微信公众号