| 光学伸长测量计 |
| JP02021710 1990-1-31 发明申请 |
| 1991-10-7 |
| 目的 : 以与高精度测量所述扩展的一种方法，其中一个光的照明装置被设置在一测试件，一对索引标记的形成通过所述的光投射从该照明装置，一对光索引标记，其中所述测试件的移动伴随所述扩展是通过一种光电转换检测装置，从而使该扩展被操作。构造 : 一对的索引标记是一测试件TP上形成由所述投射的光从一点光源11。一种图像形成的光学轴光学系统21a与所述的光学轴点B被约定光源11之前启动测试。当所述测试件TP是由一种材料试验机的扩展，所述测试件TP被扩展和所述点光源11是沿与一金属配件10向上移动时伴随所述扩展的所述测试件TP。一种光图像的点光源11是线传感器21a上形成一由所述的光学系统21b。一控制电路24移动一个摄像机21向上引伸，使得该光图像的所述点光源11是总是在所述传感器21a上的所述相同的位置。所述旋转量的一脉冲电机23是由一脉冲编码器检测，从其向上和该照相机21的向下移动量被获得。所述所述移动量被计算的差通过该电路24，使得所述扩展的所述测试件TP被获得。 |
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