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半导体探针用疲劳测试机

CN202310705008.7 2023-6-14 发明申请

2023-9-19

本发明公开了一种半导体探针用疲劳测试机，包括机箱，所述机箱的底部设置有升降台和机架，所述机架上可升降地设置有承料平台和压料机构，所述压料机构位于承料平台的上方，机箱的顶部设置有驱动机构，所述驱动机构的驱动端与所述压料机构传动配合。该半导体探针用疲劳测试机，解决了半导体测试探针的抗疲劳测试问题。