| 一种用于电子元器件的硬度检测设备 |
| CN202210764663.5 2022-6-30 发明申请 |
| 2022-9-20 |
| 本申请实施例提供一种用于电子元器件的硬度检测设备，涉及设备检测技术领域。该用于电子元器件的硬度检测设备包括：下机架、冲击机构和第一伸缩件。所述下机架的顶端安装有上箱体，且所述下机架的顶端开设有通孔；所述冲击机构包括转轴、上滑动件和下滑动件，所述转轴转动安装于所述上箱体的表面，所述转轴键连接有齿轮。本申请通过第一伸缩件支撑上滑动件移动，并利用齿轮和转轴配合，可使上滑动件和下滑动件进行相对或相背的移动，在进行检测时，可将检测台表面的电子元器件移动到上箱体内进行冲击，上箱体可阻碍冲击产生的碎片的飞溅，降低碎片对工作人员造成伤害的可能性，消除安全隐患。 |
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