| 多图层导入的测量系统及其测量方法 |
| CN202210832107.7 2022-7-15 发明申请 |
| 2022-10-21 |
| 本公开描述了一种多图层导入的测量系统及其测量方法，测量系统包括：处理装置和测量装置，处理装置包括特征提取模块、图层设置模块、特征编辑模块、零件对位模块、以及匹配模块，特征提取模块配置为提取几何特征；图层设置模块配置为创建多个图层；特征编辑模块配置为将至少一个几何特征同步至各个图层；零件对位模块配置为创建第一坐标系和第二坐标系，对各个图层的几何特征进行坐标转换，以获得测量模板；匹配模块配置为基于测量模板判断零件的加工精度是否符合预设要求。根据本公开，能够提供一种能够生成多图层的测量模板，并能够基于多图层的测量模板快速且精确地测量出零件的加工精度是否符合预设要求的测量系统及其测量方法。 |
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