| 利用扫描式电子显微镜观测表面不含导电层的样品的方法 |
| CN202010484280.3 2020-6-1 发明申请 |
| 2021-12-7 |
| 本揭示内容涉及利用扫描式电子显微镜观测表面不含导电层的样品的方法，包含以下步骤：提供样品，样品包含纳米银线，并且样品的表面不含导电层；将样品固定于扫描式电子显微镜的样品台；调整扫描式电子显微镜的参数，包含使加速电压介于0.5kV至3kV之间；以及观测样品，视野下呈现一纳米银线的影像。本揭示内容的方法提升透过扫描式电子显微镜观测不良导电性样品内部的纳米银线的分辨率，节省常规的不良导电性样品的前处理工序(例如导电处理)以及时间，并免于表面导电层的干扰，直接观测到更为真实的纳米银线的样貌。 |
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