扫描噪声显微镜及其使用方法
 
JP2020026020  2020-2-19  发明申请

2021-9-9
 
  “问题”能够准确地检测样品自身产生的无源近场信号,而不受来自外部的背景辐射的影响。 “解决装置”包括共焦点显微镜10,该共焦点显微镜10包括能够检测兆赫兹波的CSIP检测器12和物镜16; 图1是选择图。
 
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