| 一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪 |
| CN202022240754.8 2020-10-10 实用新型 |
| 2021-1-5 |
| 本实用新型公开一种基于背向散射互相关技术的纳米粒度仪，包括样品池、检测器、激光器、透镜组、第一～二数据采集卡以及控制单元，其中激光器发射的激光通过透镜组照射到样品池中的样品上，两个检测器同时接收样品的散射光，并分别通过第一～二数据采集卡将信号传输至控制单元；还具有微处理器，其信号输入端接收控制单元的指令，输出端输出控制信号接至马达控制回路中。本实用新型结合了可移动样品检测点的背散射技术和互相关计算的背向散射互相关纳米粒度仪真正的实现了对于高浓度高浊度样品的准确检测，并进一步增进了快相关计算能力。该设备具有很好的推广和实用价值，广泛的推广应用后会产生良好的经济效益和社会效益。 |
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