| 使用散射的超局部显微镜及其相关设备 |
| JP2020552880 2019-3-26 发明申请 |
| 2021-8-10 |
| 本发明包括： 荧光显微镜， A.具备具有具有第一初始构成C1的波面的相干激发光线(5)， 通过照亮包含一个或多个荧光发光体的散射采样， 激发该散射样品中包含的一个或多个荧光发光体的步骤， B.通过像素摄像单元(45)， 获取与散射样本的背景图像F1=FB相对应的第一初始图像F1， 获得斑点粒子图像的步骤， C.属于具有至少一个荧光发光体的荧光信号的第一初始图像F1的区域的N=1。。。M个坐标[xN， 具有yN]， 分别选择具有第一初始强度IPN1的M个目标像素PN的步骤， D.通过针对M个目标像素PN中的每一个优化波面的第一初始配置， 减少第一初始图像F1的散斑粒子大小， 获取具有与目标像素PN的最大强度对应的荧光信号的局部最大IPNmax的散射样本的最终图像Ffin(IPNmax)， E.将步骤B中获取的背景的第一初始图像FB 通过从步骤D中获取的最终图像Ffin(IPNmax)中减去， 对于M个目标像素PN中的每一个， 强度IPNSPECKLE中的像素[xN， 分别获取位于yN]的1个散斑粒子发出的荧光信号的图像Fspeckle(PN)的步骤，和拥有F。自由中心坐标的高斯函数，通过拟合在步骤E中得到的图像Fspeckle(PN)，分别获得M个目标像素PN的xy平面的坐标(XN，YN)和强度IN。 图3是选择图。 |
微信公众号