| 超分辨率显微镜图像的自适应校正方法及SIM-ODT双模态系统 |
| CN202110386643.4 2021-4-12 发明申请 |
| 2021-7-13 |
| 本发明公开了一种超分辨率显微镜图像的自适应校正方法及SIM?ODT双模态系统，该方法包括：步骤1a，根据光学传递函数以及样本的SIM模态的原始荧光图像，重建获得带伪影的初始SIM超分辨图像；步骤2a，将初始SIM超分辨图像和原始荧光图像按照第一种划分方式分割成若干第一SIM超分辨子图像和原始荧光子图像；步骤3a，通过三维折射率分布，沿SIM模态的光轴找出含有荧光信号的各原始荧光子图像对应的成像焦平面及其对应的样本层数，并在含有荧光信号的各原始荧光子图像的中心及该中心的相邻区域的选定点处设置点光源；步骤4a，计算点光源从原始荧光子图像对应的成像焦平面传播到样本表面的第一光场分布；步骤5a，更新第一光学传递函数；步骤6a，重建获得原始荧光子图像的第二SIM超分辨子图像。本发明能够对超分辨率显微镜重建图像的各处像差和人造伪影进行自适应校正。 |
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