| 高空间和时间分辨率合成孔径相位显微镜(HISTR-SAPM) |
| US17133123 2020-12-23 发明申请 |
| 2021-7-1 |
| 提供了一种用于样品成像和计量的高空间和时间分辨率合成孔径相位显微镜(HISTR-SAPM)系统和方法。 HISTR-SAPM系统包括第一照明光束沿其传播的样本照明路径和第二照明光束沿其传播的参考光束路径。 第一数字微镜器件(DMD)，第二DMD和第一扫描物镜设置在样品照明路径中并位于与样品相邻的第一侧。 第二扫描物镜将样品信息传送到分束器(BS)，其中样品照明光束和参考光束被组合以在用于成像样品的最终像平面处形成干涉图。 然后使用傅立叶空间光谱分析和合成孔径以高分辨率和高速重建样品的定量相位图。 |
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