在透射带电粒子显微镜中研究动态样品
 
EP18165886  2018-4-5  发明授权

2021-6-23
 
  一种使用透射带电粒子显微镜检查动态样品的方法,包括:-源, 用于产生带电粒子束的样品保持器, 用于将样品保持在样品平面中;照明系统, 用于将所述光束引导到所述样品上;成像系统, 用于将透过样品的带电粒子引导到探测器平面中的探测器上,具体包括: 对所述光束进行稀疏化,以便在检测器级产生图像,所述图像包括子图像的分布,所述子图像至少沿着选定的扫描路径彼此隔离; 使用扫描组件使所述图像和所述检测器在时间间隔t内沿所述扫描路径相对运动, 以便将每个子图像涂抹到所述检测器上的检测条纹中,每个这样的条纹在所述时间间隔t期间捕获其相关子图像的时间演变。
 
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