| 具有用于检测样品相对于物镜的位移的装置的方法和显微镜 |
| DE102020127071 2020-10-14 发明授权 |
| 2021-6-17 |
| 为了检测样品(4)相对于物镜(2)的位移，用物镜(2)将样品(4)成像在图像传感器上。 用图像传感器(14)记录样品(4)的图像。 通过在图像传感器(14)的图像点上配准(4)来自样品(29)。 图像传感器(14)的不大于90%的像素的子集是通过在设置周期期间对来自样品(4)的图像传感器的强度进行配准而选择的，并且配准在图像传感器(14)的各个像素处的光(29) 并且当选择图像传感器(14)的图像斑点子集时，散射被用作准则。 然后，借助于至少一个同样对应于图像传感器(14)的图像点子集的参考图像，部分图像分别对应于图像传感器(14)的图像点子集。 |
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