| 材料试验机 |
| JP01284109 1989-10-31 发明申请 |
| 1991-6-19 |
| 目的 : 使所述的平均值的准确测量所述的负载-位移特性测试片在所述相同生产单元通过检测到的采样数据在所述位移和所述相同的生产中所述测试样本的所述负载单元位移处预先规定的间隔。结构 : 一中央处理装置CPU15样本上的数据负荷和位移在规定的时间间隔。当位移从外部指定的间隔被超过，该数据在所述负载和所述位移在一个采样此后立即到来的时间被存储在存储器16。当从外部指定的被检测的位移，换句话说，所述CPU15上有选择地所述数据收集所述负载和所述位移之后立即采样并将它们存储在所述存储器16。当在所述指定的位移所获得的数据在每个测试片的间隔在多个在一生产单元被存储在所述存储器16在这种方式，所述CPU15确定所述平均值的所述负载在每个规定的位移用于每个测试片，和使CRT17显示一个所述负载的平均曲线-所述的位移特性测试片在所述相同的生产单元。 |
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