| 暗跟踪，混合方法，锥形衍射显微镜和暗寻址 |
| WOIB20001009 2020-12-2 发明申请 |
| 2021-6-10 |
| 一种主要用于荧光显微镜的超分辨率技术，通过包括多个步骤的混合方法获得发射器的三维位置。 在第一步骤中，获取发射器的二维位置， 使用一种技术， 在本申请中命名为Abbe的漏洞技术， 在此技术中，一种生面团， 或者在环形零点移向发射器以到达发射器不发光的位置的条件下，将在分布的组合中心处具有零强度的分布的组合投影到包含发射器的样品上。 在第二步骤中， 使用3D整形方法获得轴向测量结果， 其特征在于，所发射的光由附加的光学模块成形，该附加的光学模块产生由发射器发射的光的形状，该形状取决于轴向位置和从该形状恢复轴向位置的装置。 |
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