| 一种用于XRD和原子力显微镜的变温样品台及其使用方法 |
| CN202110025771.6 2021-1-8 发明申请 |
| 2021-5-25 |
| 本发明公开了一种用于XRD和原子力显微镜的变温样品台及其使用方法，本发明的用于XRD和原子力显微镜的变温样品台包括样品台底座，所述样品台底座的顶部设置有立柱，所述立柱的顶端设置有第一固定螺帽，所述样品台底座的顶部设置有中心螺柱，所述中心螺柱的顶部设置有载物台，所述立柱的顶部一侧设置有支撑平台，所述载物台的内部开设有通孔，所述载物台的底部设置有加热片，所述样品台底座的底部设置有磁片。解决了目前还没有同时满足XRD及AFM的变温样品台，现有的变温样品台兼容性差，难以同时满足多种仪器的测试需求，现有测试仪器配备的变温装置，造价高，设备复杂，操作难度大，易损坏，且维护成本高的问题。 |
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