一体化透射电子显微镜
 
US17035267  2020-9-28  发明申请

2021-4-1
 
  一种集成透射电子显微镜,包括用于超快调谐束的多个电子源,扫描探针和以不同束能量的平行照明,可以在亚微秒内以动态“瞬态”过程交替地照射到样品上,以获得具有位点特异性的原子级结构/化学数据。 各种电子源和聚光器光学器件能够实现高分辨率成像,高时间分辨率成像和化学成像,使用快速切换磁体将不同的电子束引导到样品所在的单个可操纵的目标极片上。 装在单个显微镜中的这种多模态原位表征工具具有使材料科学发生革命性变化的潜力。
 
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