| 用于校准的过程示踪剂 |
| DE10327867 2003-6-18 发明申请 |
| 2004-12-16 |
| 本发明示出了一种用于测量所述的测量过程值在一工件(7)与一个坐标测量装置; 其中一测量探针(5)与一可动柱塞(6)显示出，其中所述坐标测量装置使用参数(a)线性或非线性的示意图(变换)的所述测量探针(5)偏转信号(S)的确定为一个坐标系统(xm，Ym，zm)的所述坐标测量装置将驱动通过可以。为了能够使用该程序用于任意测量探针，在特定还探针，其柱塞所述坐标方向中是不移动的LED，这些参数的至少一个部分(aanti)描述了柱塞的部件偏转，其支架切向向所述工件表面在该点的影响。 |
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