| 材料试验机 |
| JP04271860 1992-10-9 发明申请 |
| 1994-5-6 |
| 目的 : 以一低频率区域中提高控制精度，通过提供一种装置，用于设定所述的时间间隔操作放大处理和一种装置，用于计算一个平均的值，然后进行反馈控制到一个测试波所述的装置和所述平均的值用于计算平均值。结构 : 所述类型，振幅，频率，等，一种测试波的诸如一正弦波和三角波被设置到一函数发生器37根据该测试之前，所述测试样品21的条件。当该测试被启动，负载或位移所设定的测试波的命令信号被输出到CPU30。所述CPU30检测所述负载和位移到被施加到样品体21与一负载电池22和一个致动变压器23，分别，使用一个A\/D转换器32和34用于转换，和然后输入所述数字反馈信号的负载和位移。所述负载或位移命令信号被输入从一个功能发生器37是与所述反馈相比信号以计算出控制偏差，以执行反馈操作放大处理，和然后以计算该量的操作的一个致动器20e。 |
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