| 材料试验机 |
| JP07117266 1995-5-16 发明申请 |
| 1996-11-29 |
| 目的 : 一种材料，以有效地执行所述的采样测试结果。结构 : 一种材料试验机中，一个数据处理器20操作所述数据的采样数Nd在一短所述的基础上的取样周期TS一个采样周期，所述一种RAM卡18和采样数据的容量长度。一个测量装置10样本的测试结果在所述短采样周期Ts，直到到达该数量Nd所述RAM中的数据以存储所述相同卡18和进一步发送一采样的结果在一个采样周期长于所述取样周期TS到所述数据处理器20。一测试完成在一个样品破裂时的时间点和所述测量装置10将该RAM卡18中所存储的采样数据到所述数据处理器20和所述数据处理器20合成所述各采样数据存储在该RAM卡18和一个RAM23，从而不包含重叠数据。 |
微信公众号