| 材料试验机 |
| JP07301389 1995-11-20 发明申请 |
| 1996-12-13 |
| 目的 : 提供一种材料试验机的成本和操作的有利的术语中，允许一高速访问和作为以及确保高可靠性中选择一测试程序(测试条件和数据的处理方法)中的各种模式。结构 : 多个半导体存储器的模块8被制备，以处理与各种专用程序，以及一特定模块8存储一用于所需要的测试条件的专用程序和数据的处理方法是选择用于连接到微处理器1。然后，每个部分的一测试机可以被所述的基础上控制所需要的专用程序仅通过选择所述程序经由一程序选择装置10。还，一操作该存储器2中系统的一个系统可以被选择和激活与所述装置10，即使在该条件，其中所述存储器模块8存储所述专用程序被连接到所述微处理器1。此外，当该模块8所述的电源后立即被连接所述系统被接通，所述在其中存储的专用程序被执行。 |
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