| 准备用于对样品成像的显微镜的方法 |
| CN202011213216.8 2020-11-3 发明申请 |
| 2021-5-11 |
| 准备用于对样品(4)进行成像的显微镜(2)的方法，包括以下步骤：提供用于对样品进行成像的显微镜，其中显微镜包括物镜，物镜具有用于校正像差的可马达调节的物镜校正环(20)；获取样品信息，样品信息包括以下信息中的至少一种：盖玻片(10)的厚度、盖玻片(10)的材料、样品温度、样品类型、样品在样品载体(6)上的位置、样品的包埋介质(8)、浸没介质(19)；使用显微镜对样品成像，以使用物镜校正环(20)的第一设置的产生样品的至少一个原始图像；将至少一个原始图像和样品信息输入到机器算法(32)中，并且算法基于原始图像和样品信息确定物镜校正环的第二设置，该第二设置通过算法降低了相对于第一设置的成像像差。 |
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