| 非接触式光学头用于检查物品的几何参数 |
| RU2015104149 2015-2-9 实用新型 |
| 2015-12-20 |
| 非接触式光学头用于检查物品的几何参数，由迈克尔逊干涉仪及其测量电路，在迈克尔逊干涉仪中形成的电输入和输出，还创建光学测量通道，连接到光学尖端与辐射和接收光束的可能性，在测量电路中产生电的输入和输出，与电力输出迈克尔逊干涉仪连接至测量电路，其电输出的输出进行非接触测量头，其特征在于 : 迈克尔逊干涉仪中被创建第二电输入，在光学端片聚焦透镜，用以聚焦光束，测量方案中另外形成第二电脉冲信号的输出与形成的可能性用于脉冲辐射和接收的光通量和第三电口，其分别连接到第二和第一电输入迈克尔逊干涉仪。 |
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