| 成像质谱系统和使用成像质谱的分析方法 |
| US17113544 2020-12-7 发明申请 |
| 2021-9-23 |
| 成像质谱分析部分(100)在目标样品上的设置在测量区域内的每个微区域处执行质谱分析，并且获取示出特定质荷比或质荷比范围下的信号强度分布的图形图像。 定量分析部(300)使用对从目标试样的测定区域内的各规定部位收集的试样进行分析而得到的分析结果来确定定量值， 使用显示出比质谱分析更高水平的定量测定性能的预定分析技术。 处理部(400)求出信号强度与定量值的关系， 基于在预定位置处为样品确定的定量值和在与信号强度分布中的预定位置相对应的位置处的信号强度，并使用该关系估计在信号强度分布中的任意位置处的定量值。 |
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