| 质谱仪的控制方法 |
| WOJP21046871 2021-12-17 发明申请 |
| 2022-6-23 |
| 本发明提供了一种用于控制质谱仪的方法，利用该方法可以指定设备中异常的位置。 本发明提供了一种用于控制质谱仪的方法，该质谱仪具有用于电离样品中的化合物的离子源， 根据质荷比分离离子的质谱分析单元， 以及多个电极，用于形成用于将由离子源产生的离子输送到质谱分析单元的电场， 该方法包括用离子源电离样品， 通过离子渗透性随时间的变化来感测积累在电极上的离子和构成质谱分析单元的四极质量过滤器， 以及通过离子量相对于离子源的电压或气体流量的变化来感测离子源的电离效率的变化。 |
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