TOF质量校准
 
US17310989  2020-6-10  发明申请

2022-3-24
 
  一种用于质量分析器的校准装置,包括离子源装置和两用电子束发生单元。 离子源装置电离样品的分析物,产生分析物离子。 两用电子束发生单元位于离子源装置和质量分析器之间。 在第一模式中,两用电子束发生单元用于产生未知质荷比的分析物离子片段。 在第二模式中,两用电子束发生单元用于产生已知质荷比的校准化合物的离子。 所有离子随后被转移到质量分析器。
 
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