| 飞行时间校正方法和质谱仪 |
| CN202311369005.7 2023-10-20 发明申请 |
| 2024-3-1 |
| 本方案属于单颗粒气溶胶检测技术领域，公开了飞行时间校正方法和质谱仪。该方法包括步骤：配制不同粒径的气溶胶颗粒标准样品，记为S1, S2…Sn；分别获取气溶胶颗粒S1, S2…Sn在单颗粒气溶胶质谱仪中从第一测径激光到第二测径激光的飞行时间t1，分别记为T1, T2…Tn；令单颗粒气溶胶质谱仪按t2＝at1+b预估气溶胶颗粒从第二测径激光到电离激光的飞行时间t2，固定b值为常数B0，改变a值，直至气溶胶颗粒被电离效率达到最高，分别获取气溶胶颗粒S1, S2…Sn在单颗粒气溶胶质谱仪中被电离效率最高时的a值，分别记为A1, A2…An；对离散点(T1, A1*T1+B0), (T2, A2*T2+B0)…(Tn, An*Tn+B0)进行拟合，得到拟合曲线方程t2＝At1+B。获得的拟合曲线方程能准确预估飞行时间，提高电离效率。 |
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