| 差分离子迁移率分析 |
| WOEP22076480 2022-9-23 发明申请 |
| 2024-3-28 |
| 一种分析离子的方法，包括从离子源中的样品产生离子，将它们输送到真空外壳的真空区中，所述真空外壳包括离子迁移率分析器，所述离子迁移率分析器具有形成在限定分析间隙的相对电极之间的离子漂移区。 离子作为缓冲气体的超音速射流从离子入口出现，其中离子被夹带以进入漂移区，并且例如在下游真空区中对离子进行优先质谱分析，在第一真空区中对离子进行差分离子迁移率分析。 根据离子优先进行差分离子迁移率分析(例如，和质谱分析)，该方法包括a)改变进入或离开真空区域的气体的流速； b)测量所述真空区中的气体压力，并重复步骤a)和b)直到达到目标气体压力值; c)测量沿所述漂移区的气流速度，并重复步骤a)至c)直到所测量的气体速度值达到预设的目标气体速度值，并随后根据所述目标气体压力值和所述目标气体速度值进行所述差分离子迁移率分析和所述质谱分析。 |
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