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产业专利数据

使用基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱仪的分析系统

US18509308 2023-11-15 发明申请

2024-3-14

一种包括质谱仪的分析系统和/或方法。质谱仪可以被配置为使用至少一次激光发射对样品进行测量，并且生成针对样品上的至少一次激光发射的测量数据的分布。对样品的测量是一种制造技术。制造技术涉及部件成本。