一种质谱分析装置及防碰撞池离子串扰的方法
 
CN202311564667.X  2023-11-22  发明申请

2024-2-27
 
  本发明公开了一种质谱分析装置及防碰撞池离子串扰的方法。该质谱分析装置,其特征在于,包括离子源、第一质量分析器、碰撞池、第二质量分析器和电压施加组件;离子源、第一质量分析器、碰撞池和第二质量分析器按顺序依次布置;电压施加组件分别向第一质量分析器、碰撞池、第二质量分析器施加第一复合电压、直流偏置电压和第二复合电压;第二复合电压还用于通过电容耦合至碰撞池中并形成射频电场。通过本发明的装置进行MRM扫描时,通过在离子对之间插入射频电场来排空碰撞池中的残留离子,从而解决离子串扰的问题。
 
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