| 基于高电荷态离子源的加速器质谱分析装置 |
| CN202311470749.8 2023-11-7 发明申请 |
| 2024-2-27 |
| 本发明提供一种基于高电荷态离子源的加速器质谱分析装置，包括高电荷态离子源模块、第一选择模块、加速模块、第二选择模块和探测模块；高电荷态离子源模块用于产生高电荷态离子束流，第一选择模块用于对高电荷态离子束流进行第一级筛选；加速模块用于将高电荷态离子束流加速至预设的目标能量水平并进行速度筛选，第二选择模块用于对高电荷态离子束流进行第二级筛选；探测模块用于对高电荷态离子束流进行粒子鉴别和/或同位素丰度比测量。高电荷态离子源模块产生的高电荷态离子束流没有分子态的干扰，并且能够提供远大于现有技术中铯溅射负离子源的束流强度，提升测量灵敏度，还能对无法产生负离子的部分核素进行分析，适用范围广。 |
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