| 质谱分析装置和质谱分析方法 |
| WOJP19018334 2019-5-8 发明申请 |
| 2020-11-12 |
| 该质谱分析装置具备：测定控制部(41)， 为了优化影响离子源(31)中的电离效率的n种参数(n为大于或等于2的整数)， 控制每个单元在改变的同时重复测量包含目标组分的样品， 在多个阶段中， N种参数中的每一种参数的值， 或汇总M种参数(M是小于N的整数)的值集， 以及参数确定单元(53)， 基于在测量控制单元(41)的控制下执行的测量结果， 顺序地为每个参数找到最优值，其中表示温度物理量的至少一种类型的参数在表示温度以外的物理量的所有参数之前被优化。 |
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