| 质谱分析装置和质谱分析方法 |
| WOJP19022464 2019-6-6 发明申请 |
| 2020-12-10 |
| 根据本发明实施方式的质谱分析装置具备：电离部(31)； 质量分离单元(32)； 检测单元(33)； 第一测量执行控制单元(41)，用于控制电离单元(31)等，以在改变被定义为设备参数的多个参数的值的同时重复地对目标样品执行第一测量； 第二测量执行控制单元(42)，用于控制电离单元(31)等对目标样本执行第二测量，其中在启动之前将设备参数的每个参数值设置为预定参考值两次或更多次 在完成第一次测量之后或在重复第一次测量期间重复第一次测量； 校正处理单元(53)，用于使用两次或更多次执行的第二测量结果校正第一测量结果； 以及设备参数相关信息获取单元(54，55)，用于使用校正后的测量结果来确定设备参数，或者获取用于确定设备参数的参考信息。 |
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