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荧光显微镜中像差校正的方法和装置

DE102019007066 2019-10-11 发明申请

2021-4-15

三维样品中的扫描荧光显微镜检查光学像差构成了一个问题。本发明基于这些像差的校正。它能够以高质量进行三维图像数据集的荧光显微采集。这是通过确定像差校正函数来实现的，所述像差校正函数特别是基于平行于显微镜光轴取向的截面图像来确定对样品的激发光的像差校正函数，并且在随后的三维图像数据的记录中应用该校正。像差校正通过校正装置来执行，校正装置优选地可以是可变形镜。