| 分析质谱仪的场 |
| GB2213500 2022-9-14 发明申请 |
| 2022-10-26 |
| 提供了一种分析质谱仪的场的方法，所述质谱仪包括质量分析器和具有第一Wien滤波器和第二Wien滤波器的静态场质量过滤器。 该方法包括，对于第一和第二Wien滤波器的电场或磁场中的一个的多个预定强度中的每一个：将第一和第二Wien滤波器的电场或磁场中的一个设置为预定强度； 使包括一个或多个离子种类的离子束注入通过所述静态场质量过滤器； 以及使用所述质量分析器测量所述束中的所述一种或多种离子种类中的每一者的离子的相应强度。 |
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