| 具有耦合到质量分析器的离子阱的分析仪器 |
| DE102023124137 2023-9-7 发明申请 |
| 2024-3-14 |
| 分析仪器包括质量分析器以及耦合到质量分析器的第一和第二离子阱。 操作该仪器的方法包括以第一离子阱将离子限制在第一质荷比(m/z)范围内的操作模式操作第一离子阱，在第一离子阱中存储第一离子，以第二离子阱将离子限制在不同的第二质荷比(m/z)范围内的操作模式操作第二离子阱，以及在第二离子阱中存储第二离子。 该方法还包括将第一离子从第一离子阱喷射到质量分析器中，将第二离子从第二离子阱喷射到质量分析器中，以及对第一离子和第二离子进行质量分析。 |
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