| 用于优化干涉散射显微镜的方法和装置 |
| WOGB20052522 2020-10-9 发明申请 |
| 2021-4-15 |
| 本申请公开了一种通过干涉散射显微镜对样品成像的方法和装置， 该方法包括用至少一个相干光源照射样品， 样品被保持在样品位置，该样品位置包括具有折射率变化的界面， 用照明辐射照射样品以从样品产生反向传播信号，该反向传播信号包括在界面处反射的光和由样品散射的光， 将反向传播信号分成第一和第二信号， 使用修改元件修改第二信号，使得第二信号不同于第一信号， 将所述第一和第二信号引导到第一和第二检测器上以分别生成第一和第二图像，并且由处理器对所述第一和第二图像进行比较以确定所述样品的一个或多个特征。 |
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