| 用于粒子质谱分析的装置和方法 |
| EP18171596 2018-5-9 发明申请 |
| 2019-11-13 |
| 本发明涉及一种用于粒子质谱分析的装置和相应的方法， 该装置包括 : 第1照射部(4)，其对粒子(1)照射电磁辐射，使粒子(1)的成分分离； 特别是解吸， 烧蚀和/或蒸发， 从颗粒(1)， 颗粒(1)的分离部件(2)位于颗粒(1)的残余核(3)附近， 第二照射单元(14-16)， 19)被配置成基本上同时照射i)至少一部分被拆卸的部件(2)， 和任选的颗粒(1)的剩余核(3)， 用第一电磁辐射束(17)使至少一部分分离的部件(2)电离， 第一电磁辐射束(17)具有第一强度， 和ii)用第二电磁辐射束(18)至少部分粒子(1)的剩余核(3)，以引起粒子(1)的剩余核(3)的至少一部分组分的电离， 第二电磁辐射束(18)具有第二强度， 其优选大于第一强度， 以及质谱仪，其包括离子源区域(5)，该离子源区域(5)被配置为容纳被分离的部件(2)的正离子(+)和/或负离子(-)和/或残留芯的部件的正离子和/或负离子， 配置成检测正离子(+)的第一检测通道(6)，以及可选地配置成检测负离子(-)的第二检测通道(9)。 |
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