二频离子阱性能
 
US18455356  2023-8-24  发明申请

2024-2-29
 
  本文公开的这种系统和方法被配置为通过使用多方向分段扫描方法来改善高质量范围离子阱性能。 在本文公开的系统和方法的一些实施例中,常规离子阱技术的质量范围可以被扩展/增加而不改变硬件或损害较低范围的质量/电荷效率。 具体地,本文公开的系统和方法使用分段、双向扫描,其增加了离子阱质谱仪的质量范围,并且规避了在高汤普森值范围中的质量分析期间的质量区分问题。
 
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