| 使用离子迁移率质谱的成像分析方法和装置 |
| WOJP22028407 2022-7-21 发明申请 |
| 2024-1-25 |
| 根据本发明的成像分析装置的一个实施例包括：测量单元，其通过在样品的预定测量区域中按每个微区域进行离子迁移率质谱分析来获取分析结果数据； 相关性调查单元(22、23)，其基于由所述测量单元获取的分析结果数据，调查m/z与离子迁移率之间的相关性； 以及数据缩减部(24、25)，其基于由相关性调查部获得的相关性结果，通过根据m/z限制离子迁移率范围或根据离子迁移率限制m/z范围来缩减分析结果数据的量。 |
微信公众号